负性阻抗的测试方法是：在无源晶振输出端串接一个可变电阻，可变电阻调至最小，接通电源让电路正常动作，调整可变电阻，将之调大，直至振荡器不起振，确定不起振后，再将可变电阻调小，观测波负性阻抗是针对晶振的实际应用电路的，并不是针对晶振这个个体的。它的测试方法如下：在晶振与IC的时钟引脚之间串接一个电阻(也有说必须是在IC的OSC_OUT与晶振间串联的),调整这个电
这个串接电阻，本来就是降低激励幅度的，避免晶振过驱动，加大以后降低波形幅度是正常的。你说的丢数据是判断电阻RD大小的最简单的方法就是串联一个微调电阻，从0开始慢慢调高，一直到正弦波不在被削平为止，通过此办法就可以找到最接近的电阻RD值。2)负载电容理论上，当无源晶振电
原因分析：在无源晶振应用方案中，两个外接电容能够微调晶振产生的时钟频率。而并联1MΩ电阻可以帮助晶振起振。因此，当发生程序启动慢或不运行时，建议给晶振并电路中在晶振旁边并上一个电阻的作用，主要有以下4点：1、配合IC内部电路组成负反馈、移相，使放大器工作在线性区。晶振输入输出连接的电阻作用是产生负反馈，
在一些方案中，晶振并联1MΩ电阻时，程序运行正常，而在没有1MΩ电阻的情况下，程序运行有滞后及无法运行现象发生。原因分析：在无源晶振应用方案中，两个外接电容能有源晶振的输出匹配电阻一减少谐波有源晶体输出的是方波这将引起谐波干扰尤其是阻抗严重不匹配的情况下加上电阻后该电阻将与输入电容构成rc积分平滑电路将方波转换为近似正弦
有源晶振参考电路有源晶振不需要CPU的内置振荡器，所以信号稳定，质量好，连接方式简单(主要是对电源进行滤波，通常由一个电容和一个电感组成一个滤波网络，输出端可以用很小的电阻一份电路在其输出端串接了一个22K的电阻，在其输出端和输入端之间接了一个10M的电阻，这是由于连接晶振的芯片端内部是一个线性运算放大器，将输入进行反向180度输出，晶振处
